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SN74BCT8374ADWG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

詳細參數(shù)

  • 型號：

    SN74BCT8374ADWG4

  • 功能描述：

    特定功能邏輯 Scan Test Device

  • RoHS：

    否

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 系列：

    SN74ABTH18502A

  • 工作電源電壓：

    5 V

  • 封裝/箱體：

    LQFP-64

  • 封裝：

    Tube

供應商型號品牌批號封裝庫存備注價格
TexasInstruments
18+
ICSCANTESTDEVICE24SOIC
6800
公司原裝現(xiàn)貨/歡迎來電咨詢!
 詢價
TI
22+
NA
500000
萬三科技,秉承原裝,購芯無憂
 詢價
TEXASINSTRU
16+
原裝進口原廠原包接受訂貨
54402
原裝現(xiàn)貨假一罰十
 詢價
TI
16+
原廠封裝
10000
全新原裝正品,代理優(yōu)勢渠道供應,歡迎來電咨詢
 詢價
Texas Instruments
21+
24-SOIC
56200
一級代理/放心采購
 詢價
TI
20+
SOP-24
1001
就找我吧!--邀您體驗愉快問購元件!
 詢價
TI
22+
24SOIC
9000
原廠渠道,現(xiàn)貨配單
 詢價
TI
21+
24SOIC
13880
公司只售原裝,支持實單
 詢價
SN74BCT8374ADWR
1823
1823
詢價
TI/德州儀器
23+
24-SOIC
8355
只做原裝現(xiàn)貨/實單可談/支持含稅拆樣
 詢價
更多SN74BCT8374ADWG4供應商 更新時間2024-12-24 17:11:00

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