SN74BCT8245ANTG4_集成電路(IC) 專用邏輯器件-德州儀器

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原廠料號:SN74BCT8245ANTG4品牌:Texas Instruments

資料說明:IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

SN74BCT8245ANTG4是集成電路(IC) > 專用邏輯器件。制造商TI1/德州儀器生產封裝24-DIP(0.300",7.62mm)的SN74BCT8245ANTG4專用邏輯器件專用邏輯 IC 設計提供應用特定的邏輯輸出類型,例如 BCD 速率倍增、可尋址掃描端口、總線終端陣列、CML 驅動器、比較器、ABT 掃描測試、二進制全加法器、互補對加逆變器、可配置緩沖器、觸點顫動消除器、晶體振蕩器、延遲元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收發(fā)器、存儲器解碼器、電源良好檢測器和分頻器。

  • 芯片型號:

    sn74bct8245antg4

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  • 企業(yè)簡稱:

    TI1【德州儀器】詳情

  • 廠商全稱:

    Texas Instruments

  • 資料說明:

    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

產品屬性

  • 類型

    描述

  • 產品編號:

    SN74BCT8245ANTG4

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測試設備,帶總線收發(fā)器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數:

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    通孔

  • 封裝/外殼:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供應商器件封裝:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

供應商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
Texas Instruments
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TI
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