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SN74ABT18652集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74ABT18652
廠商型號(hào)

SN74ABT18652

參數(shù)屬性

SN74ABT18652 封裝/外殼為64-LQFP;包裝為卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶;類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產(chǎn)品描述:IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

封裝外殼

64-LQFP

文件大小

169.97 Kbytes

頁面數(shù)量

11

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI德州儀器

中文名稱

美國德州儀器公司官網(wǎng)

原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊

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更新時(shí)間

2025-3-1 11:45:00

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產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號(hào):

    SN74ABT18652PM

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74ABT

  • 包裝:

    卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶

  • 邏輯類型:

    掃描測試設(shè)備,帶收發(fā)器和寄存器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù):

    18

  • 工作溫度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安裝類型:

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼:

    64-LQFP

  • 供應(yīng)商器件封裝:

    64-LQFP(10x10)

  • 描述:

    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫存 備注 價(jià)格
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